振動(dòng)試驗(yàn)臺用于模擬電工、電子、汽車零部件以及其它涉及到運(yùn)輸?shù)漠a(chǎn)品和貨物在運(yùn)輸過程中的環(huán)境，試驗(yàn)其產(chǎn)品的耐振性能（技術(shù)生產(chǎn)，價(jià)格定位合理）。
振動(dòng)試驗(yàn)臺產(chǎn)品特點(diǎn)：
1．精密型設(shè)計(jì)制造、體積小、超靜音工作
2．機(jī)臺底座采用重型鋼材配減振膠墊，安裝方便，運(yùn)行平穩(wěn)，無需安裝地腳螺絲
3．進(jìn)口頻率控制器，數(shù)字化控制與顯示頻率，PID調(diào)節(jié)功能，使設(shè)備工作更為穩(wěn)定、可靠
4．控制參數(shù)實(shí)時(shí)同步顯示，無須人工干預(yù)。（各種控制條件，可于運(yùn)轉(zhuǎn)中監(jiān)視之）
5．內(nèi)嵌式振幅預(yù)測程序及調(diào)幅容易
6．四點(diǎn)同步激振，臺面振動(dòng)均勻
7．無級調(diào)整振幅，定頻及掃頻操作功能適應(yīng)不同行業(yè)多種試驗(yàn)要求
8．增加抗干擾電路,解決因強(qiáng)電磁場對控制電路干擾
9．外觀美觀，操作便捷，人性化控制

振動(dòng)試驗(yàn)臺技術(shù)參數(shù)：1．大試驗(yàn)負(fù)載(Kg)：602．設(shè)時(shí)范圍：0.01S-99.99H3．手動(dòng)調(diào)頻范圍(Hz)：1~2004．工作臺面尺寸(mm)：550×550×465．自動(dòng)掃頻范圍(Hz)：1~2006．工作臺體尺寸(mm)：550×550×3507．空載位移幅值(mm)：0~58．控制箱尺寸(mm)：450×330×7509．振動(dòng)方向：垂直10．電源電壓(V/Hz)：220/50±2%11．振動(dòng)波形：正弦波12．消耗功率(KVA)：1.713．測試模式：調(diào)頻/自動(dòng)掃頻（線性振動(dòng)）14．標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.10

振動(dòng)試驗(yàn)臺特點(diǎn)
1、數(shù)字顯示振動(dòng)頻率；
2、同步靜噪皮帶傳動(dòng)，噪聲及低；
3、試件夾裝采用導(dǎo)軌式，操作方便，；
4、機(jī)臺底座采用重型槽鋼配減振膠墊，安裝方便，運(yùn)行平穩(wěn)；
5、回轉(zhuǎn)式振動(dòng)（俗稱跑馬臺）符合及國際運(yùn)輸標(biāo)準(zhǔn)；

振動(dòng)試驗(yàn)臺系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)：
激振力：正弦：1960N（200kg.f）
頻率范圍：垂直臺：5Hz~4500Hz
額定加速度：980m/s2（100g）
額定速度：1.75m/s
額定位移：25mm（p-p）
大載荷：70kg
運(yùn)動(dòng)部件有效質(zhì)量：垂直臺：2kg
電源：3相4線380VAC10%50Hz
消耗功率：5.5kVA
連續(xù)工作時(shí)間：8h
工作環(huán)境：溫度0~40℃
濕度90%RH（25℃）
保護(hù)功能：本系統(tǒng)具有12種自動(dòng)保護(hù)聯(lián)鎖功能。
電源：AC380V10%50Hz7kVA
振動(dòng)試驗(yàn)臺使用方法
1、將機(jī)臺置于平整之地面，防振膠墊應(yīng)落實(shí)而不會出現(xiàn)前后、左右晃動(dòng)，將機(jī)臺電源接牢。機(jī)器電機(jī)為兩 相電機(jī)，請與供電電源接牢；
2、打開機(jī)器電源開關(guān)，將試驗(yàn)所需時(shí)間設(shè)定好：HMS依次為H小時(shí)、M分鐘、S秒；表盤上‘+、—’，依序 將數(shù)字1-9拔到所需檔；
3、調(diào)動(dòng)高速旋扭相應(yīng)轉(zhuǎn)速在顯示表上顯示，目視機(jī)臺運(yùn)行轉(zhuǎn)正常，將轉(zhuǎn)速調(diào)低，關(guān)掉電源；
4、將試件置于工作臺面，移動(dòng)活動(dòng)圍欄將試件固定于臺面位；
5、打開機(jī)臺電源，重啟機(jī)臺，調(diào)整相應(yīng)轉(zhuǎn)速，待試驗(yàn)時(shí)間到達(dá)設(shè)定時(shí)間后，停機(jī)檢驗(yàn)試件；
6、如需按ISTA-IA國際運(yùn)輸標(biāo)準(zhǔn)做測試，則需用隨機(jī)附帶之標(biāo)配塊置于試件（被測包裝件）下部，當(dāng)機(jī)臺運(yùn)行速度達(dá)到300rpm時(shí)，用手將標(biāo)準(zhǔn)塊從試件一側(cè)順利地推過試件底部；
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