高壓加速老化試驗箱是一款可實現高溫、高壓、高濕等實驗條件的加速老化箱，屬特種壓力設備，大大加快了客戶對產品老化情況的了解，主要零部件國外進口保修一年。
試驗箱使用條件：
溫度：5℃～+28℃（內平均溫度≤28℃）
相對濕度：≤85%RH
氣壓：86kPa～106kPa
供電條件 三相四線+保護地線，電壓范圍：AC（380±38）V
頻率允許波動范圍：（50±0.5）Hz
保護地線接地電阻小于4Ω

試驗箱結構: 
1.圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業(yè)安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象.  
2.精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次手動加水可連續(xù)運轉1H;自動加水可連續(xù)運轉999H;  
3.自動門禁,圓型門自動溫度與壓力安全檢知、門禁自動鎖定控制系統(tǒng),采用安全門把設計,內箱有大于正常壓力時測試門會被反壓保護而打不開.保護操作人員安全。  
4.型packing,內箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統(tǒng)擠壓式完全不同,可延長packing壽命.  
5.實驗開始前之真空動作可將原來內箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing  ＜1micom.以確保箱內之純凈度.  
6.保修期：機器全系統(tǒng)保固壹年(天災或人為因素造成損壞不在此限),終身維護.  
7.交貨期限:簽訂合同定金確定后3（現貨）個工作日.需方工廠交貨,我司提供免費包裝、運輸人員培訓、安裝、調試等費用.

技術性能指標：
1、溫度范圍：＋110℃～＋132℃。
2、溫度波動度：±0、5℃。
3、溫度均勻度：±1、5℃。
4、濕度范圍：R、H飽和蒸氣。
5、濕度波動度：±1、5%R、H。
6、濕度均勻度：±3、0%R、H。
7、壓力范圍：
相對壓力：+0～2kg/cm2。（注：可生產壓力范圍：+0～3kg/cm2）。
Jue對壓力：1、0kg/cm2～3、0kg/cm2。
安全壓力容量：4kg/cm2＝1個環(huán)境大氣壓＋3kg/cm2。
8、循環(huán)方式：水蒸氣自然對流循環(huán)。
9、測時間設置：0～999Hr。
10、加壓時間：0、00kg/cm2～2、00kg/cm2約30分鐘。
12、升溫時間：由常溫升至＋132℃約30分鐘非線性空載。
13、溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產品溫度變化速率。
14、試驗內箱體積供選擇：
注：
1、在無試驗負荷、無層架情況下穩(wěn)定30分鐘后測定的性能。
2、關于溫度上升及下降時間是指風冷式在周圍環(huán)境溫度為26℃±5℃,時所測量的性能。
3、溫濕度傳感器設置于空調箱出風口處。
4、溫濕度均勻度定義為：實驗室?guī)缀沃行狞c處，溫濕度時的所測之資料。
5、以上數據性能，測量，計算方法參照GB5170、2、GB5170、5的方法測定。

試驗箱性能：
1.溫度范圍:100℃~135℃可設定.
2.濕度范圍:RH.(飽和蒸氣濕度) 
3.壓力范圍:0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2jue對壓力;(安全壓力容量3Kg/cm2/G=1個環(huán)大氣壓+2Kg/cm2)
4.時間范圍:0~1000H
5.溫度分布:(+/-)2.0℃%（100℃）
6.升溫時間:RT~121℃約35分鐘內
7.加壓時間:0.0Kg/cm2~1.00Kg/cm2約35分鐘內
高壓加速老化試驗箱詳細說明：
    隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（國際電工會）所標準化。
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